输入的第一行由一个正整数 $D$ 构成，表示硅片的个数。

随后跟着 $D$ 个数据，每个数据第一行包含三个整数 $N$，$M$，$K$，分别表示硅片的长和宽，以及硅片原料不纯的单位正方形个数。接下 $K$ 行，每行两个整数 $X$ ， $Y$ ，表示单位正方形的坐标。（左上角的单位正方形用 $(1,1)$ 表示，右下角的单位正方形用 $(N,M)$ 表示。）

共 $D$ 行，每行一个整数，即最多能切出多少个 Q-RAM 芯片。

样例输入

2
6 6 5
1 4
4 6
2 2
3 6
6 4
6 5 4
3 3
6 1
6 2
6 4

样例输出

3
4

共有 $10$ 个测试点，测试点间独立计分。

对于 $10\%$ 的数据（测试点 #10），有 $K=0$；
对于另 $10\%$ 的数据（测试点 #4），有 $D=1,K=1$；
对于另 $10\%$ 的数据（测试点 #1），有 $K\le 1$；
对于所有数据，$1\le D\le 5$，$1\le N\le 150$，$1\le M\le 10$，$0\le K\le MN$。

请注意内存和时间限制。